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泰勒霍普森Surtronic DUO便攜式粗糙度儀信息
點擊次數(shù):59 更新時間:2025-12-04
泰勒霍普森Surtronic DUO是一款革命性的便攜式表面粗糙度測量儀,采用創(chuàng)新的分體式設(shè)計將驅(qū)動單元與顯示單元物理分離。該儀器符合ISO 4287、ASME B46.1等多國標準,兼具實驗室級別的測量精度與現(xiàn)場檢測的便攜性,重量僅1.2kg的顯示單元可單獨攜帶進行參數(shù)設(shè)置與數(shù)據(jù)讀取,有效擴展了工業(yè)現(xiàn)場質(zhì)量控制的作業(yè)半徑。
核心技術(shù)特性
雙模塊架構(gòu):驅(qū)動單元內(nèi)置高精度導(dǎo)程機構(gòu),確保穩(wěn)定勻速的探頭掃描;顯示單元配備3.5英寸彩色觸摸屏,支持手套操作模式
參數(shù)覆蓋全面:同步測量Ra、Rz、Rq、Rt、Rp、Rv、Rsk、Rku、Rsm、Rmr等16個粗糙度參數(shù),滿足復(fù)雜表面表征需求
智能校準系統(tǒng):集成快速自動校準功能,配備RCG-H10標準校準塊,全程校準時間<2分鐘
環(huán)境適應(yīng)性:防護等級IP64,抗電磁干擾能力強,在機加工車間、裝配線等復(fù)雜工況下保持測量穩(wěn)定性
應(yīng)用場景詳解
在汽車發(fā)動機缸體珩磨檢測中,Surtronic DUO可同時測量平臺網(wǎng)紋與溝槽深度;航空航天領(lǐng)域用于渦輪葉片榫槽粗糙度驗證時,其分離式設(shè)計允許檢測人員在不拆卸部件的情況下完成狹小空間測量。醫(yī)療器械行業(yè)特別青睞其對植入物表面Ra(0.01-50μm)和Rz的高分辨率測量能力,配合泰勒霍普森專屬分析軟件可實現(xiàn)骨科植入物多參數(shù)質(zhì)量追溯。

