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菲希爾、X射線測厚儀XDL230

菲希爾、X射線測厚儀XDL230

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德國 Helmut Fischer 公司生產的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,專為自動化和高精度測量設計,適用于各類鍍層厚度測量和材料成分分析。

菲希爾、X射線測厚儀XDL230的詳細資料:

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230應用領域

電子行業(yè)

印刷電路板 (PCB) 鍍層測量

半導體和微電子元件鍍層分析

ENIG (化學鎳金) 鍍層厚度精確測量

電鍍工業(yè)

防護性鍍層 (如鍍鋅、鍍鉻) 厚度檢測

裝飾性鍍層測量 (如裝飾鉻)

大規(guī)模生產零部件的自動化檢測

汽車與航空航天

發(fā)動機零部件鍍層質量控制

航空航天精密零件表面處理檢測

防腐鍍層厚度均勻性評估

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230其他領域

貴金屬鍍層 (金、銀等) 厚度測量

功能性涂層分析 (如電子觸點鍍層)

菲希爾、X射線測厚儀XDL230

型號XY 工作臺Z 軸自動化程度適用場景

XDL210平面支撐臺固定 Z 軸基礎型簡單樣品,手動定位

XDL220平面支撐臺馬達驅動 Z 軸標準型需要高度調整的樣品

XDL230手動 XY 工作臺馬達驅動 Z 軸增強型需要 XY 平面移動的樣品

XDL240馬達驅動自動 XY馬達驅動可編程 Z高級自動化產線,大批量檢測,精密測量



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