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狹縫擠出式涂布機配合精密計量泵供料，漿料封閉運行，可自由設(shè)定供料量，涂布精度高，涂層一致性好，若需實現(xiàn)間歇涂布，可選配閥體組件實現(xiàn)，配合漿液供料裝置實現(xiàn)高精密涂布應(yīng)用。涂布機弧形主驅(qū)熱風式烘箱，干燥效果好，基材閉環(huán)張力控制，走帶穩(wěn)定，配置放卷糾偏、收卷糾偏、過程糾偏功能，操作方便，糾偏精度高，PLC控制，方便易用。本設(shè)備應(yīng)用于鋰電池正、負極極片涂布工藝，是一款應(yīng)用狹縫擠出式涂布模頭對基材進行非接觸式涂布的一款設(shè)備，該設(shè)備通過配置狹縫擠壓涂布模頭、計量供料系統(tǒng)與進料閥體配合可實...

球磨測厚儀可快速獲得涂層厚度，簡單的球坑法是快速且精確地獲得所有涂層厚度的有效方法，適用單層和多層膜的涂層，通常包括CVD、PVD等離子噴涂涂層、陽極氧化層、化學和電沉積、聚合物、油漆和涂料。球磨儀使用的球坑法能夠簡單準確地測得涂層厚度，通過用已知尺寸的球在涂層上磨出小球坑來實現(xiàn)該目的，使用光學顯微鏡觀察時可看到呈錐形薄膜橫截面。膜厚儀只需2到5分鐘即可測量出涂層的厚度，電機固定在一個液壓臂上，從而對樣品的尺寸不造成任何限制，該測試儀是快速精確地測量工業(yè)中常見的涂層部件的涂層...

深能級瞬態(tài)譜儀是檢測半導體材料中深能級雜質(zhì)和晶體缺陷有用的方法，可用于檢測太陽能電池材料中的各種雜質(zhì)和缺陷，包括金屬雜質(zhì)以及點缺陷和位錯的等各種缺陷類型，從而分析影響少子壽命的關(guān)鍵性雜質(zhì)元素和缺陷。深能級瞬態(tài)譜是半導體領(lǐng)域研究和檢測半導體雜質(zhì)、缺陷深能級、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段，根據(jù)半導體P-N結(jié)、金-半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容技術(shù)和深能級瞬態(tài)譜的發(fā)射率窗技術(shù)測量出的深能級瞬態(tài)譜，是一種具有很高檢測靈敏度的實驗方法，能檢測半導體中微量雜質(zhì)、缺陷的深能級及界面態(tài)，通過對樣品的...

Palas®如何輔助影響天氣？Palas®與科學研究所并肩進行技術(shù)創(chuàng)新北京市人工影響天氣辦公室（北京市人影辦）負責北京地區(qū)人工影響天氣業(yè)務(wù)、科研和管理，日常主要業(yè)務(wù)包括為北京地區(qū)人工增雨、人工防雹等，曾為2008年北京奧運會等重大活動提供氣象保障。辦公室近期購置了定制的Palas®Promo®2000氣溶膠光譜儀。我們與來自人影辦的高級工程師進行了訪談，他從事大氣中云微物理過程的研究。本文將與您分享Palas®儀器與研究機構(gòu)一同探索科研...

表面光電壓譜可以用來研究光生電荷分高的動力學信息，包括光生電荷分寓過程中的漂移和擴散過程：漂移過程一般指發(fā)生在顆粒內(nèi)的快速分高過程;而主廣散過程一般為長時l司范圍內(nèi)顆粒間的電荷傳輸。另外，通過分析瞬態(tài)光電壓譜的形狀、時l司尺度、符號、強度等方面可以得到光生電荷分離和復合的快慢、分離方向、分離模式、分離程度等一系列信息。瞬態(tài)表面光電壓技術(shù)是研究納秒時間尺度上光生電荷行為的一種有效手段，具有非接觸，無損等優(yōu)點，它能夠直接反映出光生電荷的分高方向，分高效率，電荷壽命等動力學信息。表...

開爾文探針掃描是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種靈敏的表面分析技術(shù)，可提供高分辨率的測試系統(tǒng)。探針掃描成為一種多功能工具包，可用于探索各種納米生物材料和分子的電學性質(zhì)，進行的分析可以提供有價值的樣品信息，包括某些材料的表面電勢和功函數(shù)，被廣泛應(yīng)用于材料科學，電子學和生物醫(yī)學領(lǐng)域，這種技術(shù)是用一個振動電容探針來工作的，通過調(diào)節(jié)一個外加的前級電壓可以測量出樣品...